Model 11

ソフトウェア詳細

Features

  • Mobility reduction
  • Bias-dependent series resistance
  • Velocity saturation
  • Conductance effects (CLM, DIBL, etc.)
  • Gate leakage current
  • Gate-induced drain leakage
  • Gate depletion
  • Quantum-mechanical effects
  • Bias-dependent overlap capacitances

ドキュメント

クイック・リファレンス ドキュメンテーションの種類.

1 ドキュメント

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